产品型号
型号 | 简要概括 | 产品手册 |
ZX8816 | 脉冲电压输出：10-1000V，波形采样率：200Msps，可测试最小电感量：0.1µH，合格/不合格声光报警输出，带Handler、RS232C、USB Host。 |
功能与优势
| ● 脉冲电压范围10V~1000V，0.25V测量解析度 ● 高速采样测试，最快18ms ● 具有接触检查功能 ● 自动电感测试档位选择功能 | ● 四端测量功能，施加到电感上的电压更准确 ● 具有电感差异电压补偿功能 ● 脉冲测试高取样率(200MHz)，10 bits ● 崩溃电压分析功能(BDV) | ● 中英文操作界面 ● U盘存储振荡波形功能 ● 设置条件自动保存，下次开机自动调用 |
七种波形判定模式
◆ 波形面积比较(Area Size)
在任意指定的A~B区间内，对被测线圈测试波形面积进行积分，并与标准波形在此区间内的面积进行比较。波形面积近似的与能量损失成正比，可有效的检测线圈层间和匝间短路。
◆ 波形面积差比较(Differential Area)
在任意指定A~B区间内对被测线圈测试波形和标准波形的Y轴方向的差异值进行计算，将该差异面积和标准波形在此区间的面积比较。
◆ 波形颤动检测(Flutter Value)
在任意指定A~B区间内对波形进行一阶微分，计算出波形的总放电量，与标准波形的总放电量进行比较。
◆ 波形放电量二次微分检测(Laplacian Value)
在任意指定A~B区间内对波形进行二阶微分，与标准波形对应区间内的二次微分进行比较，可以检测出因电气放电或电极焊接不良引起波形快速变化的现象。
◆ 波峰比检测(Peak Ratio)
在崩溃电压分析(BDV)模式下，用待测物自谐振波形的第二个正向波峰的峰值与第一个正向波峰的峰值计算波峰比，可评价被测件是否过度劣化。
判定公式：
◆ 波峰降比检测(△Peak Ratio)
在脉冲测试（IWT）模式下，用被测物自谐振波形的第二个正向波峰的峰值与第一个正向波峰的峰值计算波峰比，将该波峰比与标准品的波峰比进行比较。波峰差异比是并联电阻(Rp)所造成能量衰减的差异，可利用波峰差异比来判定Rp是否异常。
判定公式：
◆ 共振面积比较(△Resonant Area)
在脉冲测试（IWT）模式下，开关SW断开后，被测件所产生的自谐振波形与标准样品的自谐振波形总面积进行比较。线圈绝缘不良时，共振波形会快速衰减，共振面积相对较小。
特色技术
◆ 电感自动量程
开始测试时，ZX8816先进行电感测量，根据测得的电感值自动选择合适的电感量程，使得被测电感在适当的波形下进行对比测试。
◆ 接触检查功能
ZX8816在高压输出前对测试端进行接触检查，避免因接触不良或开路使得内部以最大电压输出造成治具端探针打火，进而导致待测物收到损伤，可以延长探针使用寿命。
◆ 四端测量
传统的脉冲线圈匝间测试仪电压检测模块检测的是被测件与测试线上的电压，而对于低电感被测物，测得的电压值与实际被测物上的值有很大差异。ZX8816采用了四端测量技术，减少了实测电压值与被测物上实际电压的差异，可达到理想的测试效果。
◆ 电压补偿功能
ZX8816提供电压补偿功能，降低因感量差异造成电感上实际电压的差异，从而降低误判的可能性。
产品应用
◆ 崩溃电压分析
ZX8816具有崩溃电压分析功能，可设定起始电压、结束电压及电压步进值，在电压步进上升过程中，借助波形面积比较（Area Size）、二次微分检测（Laplacian Value）及波峰比检测（Peak Ratio）三种判定方式，实时比对波形变化是否超过设定阈值，从而测试出线圈可承受的耐电压强度，利用这些功能，研究人员能够对产品展开分析与研究，从而针对线圈的薄弱部位进行优化。
◆ 屏幕截图功能
支持屏幕截图功能，操作者可随时通过快捷键一键截取当前测试画面，并保存至USB设备，文件格式为GIF，便于测试记录。
◆ 数据导出功能
支持数据导出功能，测试结果可一键导出并保存至USB设备，文件格式为CSV，便于后续数据分析与处理。
参数与尺寸
| 型号 | ZX8816 |
| 电压峰值 | 10V-1000V |
| 测试电感范围 | 0.1µH-1mH |
| 电压精度 | ±（1%*设定电压+2.0V） |
| 采样率 | 10bits，200MHz |
| 采样档位 | 8档：0，1，2，3，4，5，6，7 |
| 脉冲数 | 测试脉冲数：1~32；激励脉冲数：0-9 |
| 波形显示范围 | 512*256点 |
| 侦测模式 | 波形面积比较、波形面积差比较、波形颤动检测、波形放电量二次微分检测、波峰比检测、波峰降比检测及共振面积比较 |
| 测试速度 | 最快18ms（Pulse=1.0） |
| 分选指示 | 合格/不合格报警（蜂鸣器和LED指示） |
| 接口 | RS232，HANDLER接口 |
| 功耗 | 空载：<150W 带载：<1000W |
| 电源 | 100~240VAC，50/60Hz |
| 尺寸(W*H*D) | 430mm*177mm*449.5mm |
| 重量 | 28kg |
单位：毫米（mm）
附件&选配件
ZX8816Y01 测试线
ZX8816Y03 测试治具
解决方案
暂无数据
客户问答
问：ZX8816 与 Chroma 19301A 相比，在技术参数、功能特性、应用价值和综合成本四个维度上具体有哪些差异？
答：ZX8816 与 Chroma 19301A 核心指标基本相当。ZX8816 测试速度 18ms，Chroma 典型值小于 20ms，相差约 2ms。ZX8816 提供劣化点分析及 Pause 暂停功能，本土化服务参考响应 4 小时。双方综合 TCO 存在差异。详见本文件《ZX8816_vs_Chroma19301A_选型对比表.pdf》。
（说明：本对比表基于双方公开资料整理，不含任何贬低性表述，仅为节省工程师自行查阅对比的时间，方便您快速选型参考。）
问：采样时发现波形和数值均异常，为什么？
答：可能是接线错误，需要注意的是，测试线的红红线接电感的一端，黑黑线接电感的另一端。
问：采样时发现产品震荡幅度很小，是什么原因？
答：可能和产品的特性有关，此类产品需要的功率比较大，可以尝试使用ZX8817来进行测试。
问：测试时，为什么面积或面积差变化幅度较大？
答：可能和设置的起始点与终止点有关，一般来说起始点为左侧第一个波峰，终止点选起始点右侧三到四个周期的波峰，可根据产品特性微调。
问：测试时波形变化比较大，导致误判多，是什么原因？
答：可能是治具测试端接触不良，请仔细检查治具接触状态，排除灰尘等因素影响。
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