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半导体测试

ZX8539H半导体C-V特性测试仪

▪ 测试频率:20Hz-10MHz ▪ 最小分辨率:1mHz ▪ 基本精度:0.05% ▪ 提供内部直流偏压:-125V~ ⠀⠀+125V

ZX8538H精密LCR表

▪ 测试频率:20Hz-1MHz ▪ 最小分辨率:1mHz ▪ 基本精度:0.05% ▪ 提供内部直流偏压:-40V~ ⠀⠀+40V 
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